Characterization of DLC Thin Films Deposited on Glass and Si Substrates under The Influence of Electric Field with ECR-MP Method
TURKISH PHYSICAL SOCIETY 35th INTERNATIONAL PHYSICS CONGRESS (TPS35), Muğla, Türkiye, 4 - 08 Eylül 2019, cilt.1, ss.298-303, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Cilt numarası: 1
- Basıldığı Şehir: Muğla
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.298-303
- Çukurova Üniversitesi Adresli: Evet