Characterization of DLC Thin Films Deposited on Glass and Si Substrates under The Influence of Electric Field with ECR-MP Method

ESEN M., ESEN M.

TURKISH PHYSICAL SOCIETY 35th INTERNATIONAL PHYSICS CONGRESS (TPS35), Muğla, Türkiye, 4 - 08 Eylül 2019, cilt.1, ss.298-303

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 1
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.298-303
  • Çukurova Üniversitesi Adresli: Evet