Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Doktora
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Çukurova Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi, Fizik, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2025
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: ONUR YILMAZ
Danışman: Cebrail Gümüş
Özet:
Bu tez çalışmasında, SILAR
(Ardışık İyonik Tabaka Adsorpsiyonu ve Reaksiyonu) yöntemi kullanılarak 60 oC
sıcaklıkta 36 daldırma döngüsü ile cam (amorf) ve ITO (polikristal) altlıklar
üzerinde Cu2O (kuprit) yarıiletken ince filmler üretilmiştir.
Üretilen Cu2O yarıiletken ince filmler sırası ile 160 oC,
260 oC, 360 oC ve 460 oC sıcaklıklarda hava
atmosferinde bir saat boyunca fırınında ısısal işleme (tavlama) tabi tutuldu.
Tavlama sıcaklığının filmlerin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri
üzerinde etkisi araştırılmıştır. X-ışını kırınımı (XRD) analizlerinden, cam ve
ITO altlıklar üzerinde üretilen Cu2O ince filmlerin kübik fazda ve
polikristal yapıda büyüdüğü görüldü. Ayrıca, Cu2O ince filmlerin 260
oC ve üzerindeki tavlama sıcaklıklarında tamamen CuO’ya (tenorit)
dönüştüğü bulundu. CuO ince filmlerin monoklinik fazda ve polikristal yapıda
büyüdüğü görüldü. Yarıiletken filmlerin temel optik parametre (%T, A,
%R, n, k, Ԑ1, Ԑ2, Eg) değerleri UV-vis
spektrofotometresinden elde edilen veriler kullanılarak hesaplandı. Cam ve ITO
altlıklar üzerinde üretilen ve farklı sıcaklıklarda tavlanan ince filmlerin
enerji bant aralığı (Eg) değerleri sırası ile 2,13
– 1,76 eV ve 2,11 – 1,70 eV olarak bulundu. Alan Emisyonlu-Taramalı Elektron
Mikroskobu (FE-SEM) görüntülerinden ince filmlerin genel olarak homojen ve
küresel bir yapıya sahip oldukları, tavlama sıcaklığının artışı ile daha sıkı
bir yapının oluştuğu görülmüştür.