SILAR yöntemi ile hazırlanan bakır (I) oksit ince filmlerin fiziksel özelliklerinin araştırılması

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Çukurova Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2019

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: HÜSNÜ ÇAĞLAR ÇEVLİK

Danışman: CEBRAİL GÜMÜŞ

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu tezde, Cu2O filmleri CuSO4•5H2O kullanılarak SILAR (Ardışık İyonik Tabaka Adsorpsiyon ve Reaksiyon Yöntemi) yöntemi ile 70 oC gibi düşük bir sıcaklıkta cam alttabanlar üzerinde 10, 20, 30 daldırma döngüleri ile hazırlandı. Cu2O ince filmlerin yapısal, optik, morfolojik özellikleri araştırıldı. X-ışını kırınımı (XRD) analizlerinden Cu2O ince filmlerin polikristal yapıda ve kübik fazda oldukları bulundu. Film kalınlığının artmasıyla kristalleşmenin arttığı görüldü. Ultraviolet-visible (UV-vis) spektrofotometresi verilerden; Cu2O ince filmlerin optik geçirgenlik (T%), optik soğurma (A), yansıma katsayısı (%R), enerji bant aralığı (Eg), kırılma indisi (n), sönüm katsaysı (k), reel ve imajinel dielektrik katsayısı (ε1 ve ε2) değerleri bulundu. Cu2O ince filmlerin kalınlık değerlerinin artışı ile enerji bant aralığı değerlerinin azaldığı görüldü. FE-SEM (Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskopu) görüntülerinden film kalınlığının artışı ile filmin küresel yapıda düzgün bir dağılım gösterdiği görüldü.