Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Doktora
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Çukurova Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi, Fizik, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2025
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: H. Çağlar Çevlik
Danışman: Cebrail Gümüş
Özet:
Bu tez çalışmasının amacı, SILAR yöntemiyle, farklı
sıcaklık (30 oC ve 70 oC) ve daldırma döngüsü sayılarında
(10, 20 ve 40) cam (amorf) ve FTO (polikristal) alt tabanlar üzerinde Cu2O
(kuprit) yarıiletken ince filmler üretmek ve bu parametrelerin filmin fiziksel
özelliklerine etkisini araştırmaktır. Çalışmada, alt taban türü, daldırma döngü
sayısı ve üretim sıcaklığının, elde edilen filmlerin yapısal, morfolojik ve
optik özellikleri üzerindeki etkileri araştırılmıştır. X-ışını kırınımı (XRD)
analizleri sonucunda hem cam hem de FTO alt tabanlar üzerinde büyütülen Cu2O
ince filmlerin kübik fazda ve polikristal yapıda kristallendiği bulunmuştur.
Üretilen yarıiletken filmlerin temel optik parametreleri geçirgenlik (%T),
soğurma (A), yansıma (%R), kırılma indisi (n), sönüm
katsayısı (k), reel ve imajiner dielektrik sabitleri (Ԑ1, Ԑ2) ile enerji bant aralığı (Eg) UV-vis
spektrofotometresinden elde edilen veriler yardımıyla hesaplanmıştır.
Cam alt tabanlar
üzerinde, 30 oC’de elde edilen filmlerin Eg
değerleri 1,98–2,39 eV arasında, 70 oC’de ise 1,88–2,45 eV arasında
bulunmuştur. FTO alt tabanlar için bu değerler, 30 oC’de
2,19–2,47 eV ve 70 oC’de 2,20–2,42 eV aralığında bulunmuştur. Alan
Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskobu (FE-SEM) görüntüleri, ince filmlerin
genel olarak homojen bir morfolojiye sahip olduğunu; ayrıca yer yer çubuksu ve
küresel yapılara rastlandığını göstermiştir. Daldırma döngü sayısının ve üretim
sıcaklığının artışı ile birlikte, daha sıkı ve yoğun bir yapının oluştuğu gözlenmiştir.