SILAR YÖNTEMİ İLE FARKLI BAKIR TUZ KAYNAKLARI KULLANILARAK YARIİLETKEN Cu2O İNCE FİLMLERİN DEPOLANMASI VE KARAKTERİZASYONU

---

Tezin Türü: Doktora

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Çukurova Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2016

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Gülay Altındemir

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): CEBRAİL GÜMÜŞ

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalışmada, ardışık iyonik tabaka adsorpsiyon ve reaksiyon (SILAR) yöntemi ile dört farklı bakır tuz kaynağı [Cu(CH3COO)2•H2O, CuSO4•5H2O, Cu(NO3)2•3H2O, CuCl2•2H2O] kullanılarak cam alttaban üzerine Cu2O ince filmleri hazırlanmıştır. Cu2O ince filmleri 10, 20, 30 ve 40 daldırma döngüleri ile elde edilmiştir. Filmlerin yapısal, optik, morfolojik ve elektriksel özellikleri araştırılmıştır. UV/Vis spektrofotometresi ile Cu2O ince filmlerin optik özellikleri olan optik geçirgenlik (%T), optik yansıma (%R), soğurma (A), kırılma indisi (n), soğurma katsayısı (α), sönüm katsayısı (k), enerji bant aralığı (Eg) değerleri bulunmuştur. X-ışını kırınım (XRD) analizlerinden Cu2O ince filmlerin kübik yapıda ve polikristal fazda olduğu ortaya çıkarılmıştır. FE-SEM (Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskobu) görüntülerinden filmlerin genellikle küresel yığılmalar şeklinde oluştuğu bazı filmlerde ise küresel oluşum içinde kısmen çubuk yapılı taneciklerin olduğu görülmüştür. Hall ölçümlerinden Cu2O ince filmlerin p-tipi iletkenlik sergilemiş olduğu tespit edilmiştir. Elektriksel özdirençleri (ρ), 1.25x103-6.10x104 cm hesaplanmıştır. Filmlerin mobilite (μ) değerleri 2.24x101'den 8.74x102 cm2V−1s−1 kadar değişmiştir.