Assessment Of The Diagnostic Tests by GEE and Latent Class Modeling
XXIII International Biometric Conference, Montreal, Quebec, Kanada, 16 - 21 Temmuz 2006
- Yayın Türü: Bildiri
- Basıldığı Şehir: Montreal, Quebec
- Basıldığı Ülke: Kanada
- Çukurova Üniversitesi Adresli: Evet